1. Електронний архів КНУТД

Перегляд зібрання за групою - Автори Chung, Stan

Перейти до: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Є Ж З И І Ї Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
або ж введіть декілька перших літер:  
Результати 1 до 1 із 1
Дата випускуНазваАвтор(и)
7-лис-2024The reliability in IC industry: using thermal cycling tests to predict thermal fatigueChung, Stan
Результати 1 до 1 із 1