Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Шевчук, Олександр Федорович | uk |
dc.date.accessioned | 2016-02-08T13:09:09Z | - |
dc.date.available | 2016-02-08T13:09:09Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Шевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки". - 2015. - № 5 (90). - C. 226-232. | uk |
dc.identifier.uri | https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625 | - |
dc.description.abstract | Запропонувати методи встановлення наявності SmC* фази сегенето-електричного рідкого кристалу (чистого і допованого наночастинками). Діелектрична спектроскопія. Аналіз частотних залежностей компонент комплексної діелектричної проникності та температурної залежності провідності при змінному струмі. Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. Показано, що комплексний аналіз діелектричного спектру та температурної залежності провідності дає можливість однозначно встановити наявність SmC* фази чистого СЕРК і при наявності домішок. Розроблено ефективну і просту в реалізації методику визначення наявності сегнетоелектричної SmC* фази в чистих рідких кристалах та при наявності домішки. | uk |
dc.language | uk | - |
dc.subject | liquid crystal | en |
dc.subject | permittivity | en |
dc.subject | dielectric spectroscopy | en |
dc.subject | SmC* phase | en |
dc.subject | сегнетоэлектрических жидкий кристалл | ru |
dc.subject | диэлектрическая проницаемость | ru |
dc.subject | диэлектрическая спектроскопия | ru |
dc.subject | SmC* фаза | ru |
dc.subject | сегнетоелектричний рідкий кристал | uk |
dc.subject | діелектрична проникність | uk |
dc.subject | діелектрична спектроскопія | uk |
dc.subject | SmC* фаза | uk |
dc.title | Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі | uk |
dc.type | Article | - |
local.contributor.altauthor | Shevchuk, А. F. | en |
local.contributor.altauthor | Шевчук, А. Ф. | ru |
local.subject.section | Технології хімічні, біологічні, фармацевтичні | uk |
local.source | Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки" | uk |
local.source.number | № 5 (90) | uk |
Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації (статті) Вісник КНУТД |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
V90_P226-232.pdf | 284,86 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.