Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625
Title: | Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі |
Authors: | Шевчук, Олександр Федорович |
Keywords: | liquid crystal permittivity dielectric spectroscopy SmC* phase сегнетоэлектрических жидкий кристалл диэлектрическая проницаемость диэлектрическая спектроскопия SmC* фаза сегнетоелектричний рідкий кристал діелектрична проникність діелектрична спектроскопія SmC* фаза |
Issue Date: | 2015 |
Citation: | Шевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки". - 2015. - № 5 (90). - C. 226-232. |
Source: | Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки" |
Abstract: | Запропонувати методи встановлення наявності SmC* фази сегенето-електричного рідкого кристалу (чистого і допованого наночастинками). Діелектрична спектроскопія. Аналіз частотних залежностей компонент комплексної діелектричної проникності та температурної залежності провідності при змінному струмі. Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. Показано, що комплексний аналіз діелектричного спектру та температурної залежності провідності дає можливість однозначно встановити наявність SmC* фази чистого СЕРК і при наявності домішок. Розроблено ефективну і просту в реалізації методику визначення наявності сегнетоелектричної SmC* фази в чистих рідких кристалах та при наявності домішки. |
URI: | https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625 |
Appears in Collections: | Наукові публікації (статті) Вісник КНУТД |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
V90_P226-232.pdf | 284,86 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.