Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/2854
Title: Особливості вбудованого самотестування і самовідновлення мікросхем пам'яті
Authors: Комарницький, А. В.
Keywords: built-in self testing
decoder lines
analysis of redundancy memory cell
the final machine
встроенное самотестирование
дешифратор строк
анализ избыточности
ячейки памяти
конечный автомат
вбудоване самотестування
дешифратор рядків
аналіз надмірності
комірки пам'яті
кінцевий автомат
Issue Date: 2012
Citation: Комарницький А. В. Особливості вбудованого самотестування і самовідновлення мікросхем пам'яті [Текст] / А. В. Комарницький // Технології та дизайн. - 2012. - № 2 (3).
Source: Технології та дизайн
Abstract: Стаття присвячена питанням підвищення коефіцієнта технічної готовності мікросхем пам'яті. запропоновано архітектура вбудованих засобів само тестування та відновлення, що дозволяє виконати заміну розряду даних основного масиву запам'ятовуючих осередків, в якому стався відмову, на дані, що надходять з виходів запасного масиву запам'ятовуючих осередків. Запропоновані апаратні засоби забезпечують автоматичну реконфігурацію даних мікросхеми при виявленні відмови.
Статья посвящена вопросам повышения коэффициента технической готовности микросхем памяти. предложено архитектура встроенных средств само тестирование и восстановление, что позволяет выполнить замену разряда данных основного массива запоминающих ячеек, в котором произошел отказ, на данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Предлагаемые аппаратные средства обеспечивают автоматическую реконфигурацию данных микросхемы при обнаружении отказа.
Article is devoted to increasing the coefficient of technical readiness of memory chips. Рroposed architecture built-in self test and recovery, allowing for replacement of the discharge data of the main array storage cells in which there was a failure, the data coming from the outputs of the spare array storage cells. The proposed hardware provides automatic reconfiguration of data circuits in the detection of rejection.
URI: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/2854
Appears in Collections:Електронний науковий журнал «Технології та дизайн»
Наукові публікації (статті)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
td_2012_N2_14.pdf208,68 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.